為了幫助考生系統(tǒng)的復(fù)習(xí)結(jié)構(gòu)工程師課程 全面的了解結(jié)構(gòu)工程師考試教材的相關(guān)重點(diǎn)，小編特編輯匯總了2011年一級(jí)結(jié)構(gòu)工程師考試各章復(fù)習(xí)的重點(diǎn)資料，希望對(duì)您參加本次考試有所幫助！

1. 比如上課老師舉的例子，在金屬電極周圍圍著一圈Zn離子，外面又有一圈NO3離子，形成雙電層，這之間會(huì)產(chǎn)生一個(gè)電勢差。但是這圈NO3離子外面也應(yīng)該還有一圈Zn離子...那么電極與溶液之間的這個(gè)電勢差不應(yīng)該完全等于雙電層的電勢差吧?

答：事實(shí)上，雙電層是對(duì)更復(fù)雜情況的一個(gè)近似。當(dāng)?shù)谝粚覼n離子吸附在電極表面之后，第二層NO3-離子則不可能布滿，因?yàn)殡x金屬表面越遠(yuǎn)，離子層越不穩(wěn)定(缺乏剛性支撐)。實(shí)際上還會(huì)有第三層、第四層，不過都不太重要了。我們可以把所有的電勢落差都?xì)w于一對(duì)雙電層。這樣便于理論推導(dǎo)(表面化學(xué))。

2. 在標(biāo)準(zhǔn)電極中為何要有汞?(書本192面)

答：此處的汞與電極電勢無關(guān)。由于普通電線不是Pt線(通常是Cu線或合金線)，所以要在技術(shù)上處理Pt電極與電線的連接。由于兩種金屬的熱膨脹系數(shù)不同可能導(dǎo)致焊點(diǎn)的斷裂，因此把兩端用液體汞金屬連接。

3. 為和鋰的標(biāo)準(zhǔn)電極電勢如此之低?(比鈉還低，豈不是說鋰的還原性比鈉還強(qiáng)?)

答：對(duì)于一個(gè)電極反應(yīng)，以Li+/Li為例：

Li(s) = Li+(aq) + e

該反應(yīng)涉及三個(gè)步驟

Li(s) -> Li(g) -> Li+(g) + e -> Li(aq) + e

因此影響電極電勢的因素不僅有金屬失去電子的傾向，也有Li+的水和焓。由于Li+的水合放熱較多，因此Li+/Li的電極電勢較低。

4. 書本192面說：銅表面的自由電子有逃逸的趨勢，那是否意味著銅的表面電勢小于零?

答：“銅表面的自由電子有逃逸的趨勢”是指銅的表面價(jià)電子所受到的束縛小于金屬內(nèi)部的電子，所以更容易失去，或者說更為離域。因此按照金屬體系的電子海洋模型，金屬表面存在電-核分離的趨勢，即有一個(gè)電勢。對(duì)于所有金屬，上述說明都是正確的。

那么接下來的一個(gè)問題就是：為什么phi(Zn2+/Zn)為負(fù)，而phi(Cu2+/Cu)為正?

這主要是因?yàn)镃u的升華熱遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于Zn的升華熱(盡管它們的電離能相似)。

5. Ni-Cd電池的記憶效應(yīng)原理是什么?

答：Ni-Cd電池的“記憶”效應(yīng)并非指電池記住了上次的充電量，而是指電池中的部分氧化還原物質(zhì)失效，使電池的電壓和電容量大幅度下降。結(jié)果電池會(huì)很快失效。

Ni-Cd電池產(chǎn)生“記憶”效應(yīng)的原因是氫氧化物結(jié)晶成為較大的晶體，使之與電解液接觸的表面面積大幅度下降，從而降低了電池效率。電池里的大塊晶體不斷長大，甚至可以刺穿絕緣層，導(dǎo)致漏電和短路，使電池徹底失效。

電池中生成晶體的主要原因是過度充電，比如說在電池還有很多電的情況下充電，還有就是長時(shí)間(超過30個(gè)小時(shí))的充電。與Ni-Cd電池相比，Ni-H電池的記憶效應(yīng)非常小，生產(chǎn)廠家甚至宣稱Ni-H電池沒有記憶性(但那不是真的)。Ni-H電池的優(yōu)點(diǎn)是電容量大、記憶性小和環(huán)境污染小，但是它的缺點(diǎn)是壽命短、充電時(shí)間長。

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（責(zé)任編輯：中大編輯）

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