單選題

1、用卡尺測量尺寸時，被測量Y與輸入量X，通過函數(shù)關(guān)系f來表達的數(shù)學(xué)模型為( )。

A.y=f(Xi) B.y=f(X) C.Y=X D.Y=FX

答案：C

解析：函數(shù)關(guān)系式可能非常復(fù)雜，以至于不能明確地表示出來。當(dāng)然，數(shù)學(xué)模型有時也可能簡單到Y(jié)=X。例如：用卡尺測量工件的尺寸，工件的尺寸就等于卡尺的示值。

2、下列關(guān)于測量模型的說法有誤的是( )。

A.測量模型代表了所使用的測量程序和評定方法，它描述如何從輸入量的值求得輸出量的值

B.測量模型，又稱為測量過程的數(shù)學(xué)模型，它不是惟一的，采用不同的測量方法和不同的測量程序，就可能有不同的數(shù)學(xué)模型

C.數(shù)學(xué)模型可用已知的物理公式求得，也可用實驗的方法確定，有時甚至只能用數(shù)值方程給出

D.若數(shù)據(jù)表明，測量模型未能將測量過程模型化至測量所要求的準(zhǔn)確度，則必須在測量模型中減少某些輸入量，即減少影響量

答案：D

解析：如果數(shù)據(jù)表明，函數(shù)關(guān)系式f未能將測量過程模型化至測量所要求的準(zhǔn)確度，說明輸入量不夠，則必須在函數(shù)關(guān)系f中增加其他輸入量，即增加影響量。

3、標(biāo)準(zhǔn)不確定度的A類評定，是通過對觀測列的( )來評定不確定度的方法。

A.數(shù)據(jù)分析 B.系統(tǒng)分析 C.統(tǒng)計分析 D.誤差分析

答案：C

解析：與輸入估計值相關(guān)的測量不確定度，采用“A類”或采用“B類”方法評定。其中，標(biāo)準(zhǔn)不確定度的A類評定是通過對觀測列的統(tǒng)計分析來評定不確定度的方法。此時，標(biāo)準(zhǔn)不確定度為通過求平均程序或適當(dāng)?shù)幕貧w分析求得的平均值的實驗標(biāo)準(zhǔn)差。

4、用千分尺測量某零件長度，經(jīng)16次的重復(fù)測量后計算得到樣本標(biāo)準(zhǔn)差s=0.1Omm。則該測量中的標(biāo)準(zhǔn)不確定度μA的值為( )。

A.0.079 B.0.10 C.0.0025 D.0.025

答案：D

5、校準(zhǔn)證書上指出，標(biāo)稱值為lkg的砝碼的實際質(zhì)量m=1000.00032g，并說明按包含因子k=3的擴展不確定度U=0.24mg，則由該砝碼導(dǎo)致的測量標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量μ(m)為( )。

A.72μg B.80μg C.83μg D.90μg

答案：B

6、用一臺數(shù)字多用表對生產(chǎn)用lMQ電阻進行測量，評定后UA=0.082kΩ，uB=0.046kQ，取包含因子k=2，那么該數(shù)字多用表的擴展不確定度U為( )。

A.0.188kΩ B.0.192kΩ C.0.19kΩ D.0.18824kΩ

答案：C

7、示波器顯示屏幕的刻度最小為0.2格，當(dāng)靈敏度調(diào)到2mV格時，其分辨力為( )。

A.0.ImV B.0.2mV C.0.4mV D.0.8mV

答案：B

解析：分辨力是指顯示裝置中對其最小示值的辨別能力。模擬式顯示裝置的分辨力通常為標(biāo)尺分度值的一半，即用肉眼可以分辨到一個分度值的1/2。肉眼可觀測到最小刻度的1/2，靈敏度為2mV，其分辨力為2×(0.2/2)=0.2mV。

8、某被檢電壓表的示值為300V時，用標(biāo)準(zhǔn)電壓表測得其電壓的實際值為298V，則被檢電壓表的示值誤差為( )。

A.-2V B.+2V C. 2V D.1-2VI

答案：B

解析：測量儀器的示值誤差是測量儀器示值與對應(yīng)的輸入量的真值之差，它是測量儀器最主要的計量特性之一。題中被檢電壓表的示值誤差△=300-298=2V。

9 、測量儀器的量程是( )兩極限之差的絕對值。

A.標(biāo)稱范圍 B.測量范圍 C.標(biāo)尺范圍 D.工作范圍

答案：A

解析：標(biāo)稱范圍的上限與下限之差的絕對值，稱為量程。測量范圍又稱為工作范圍，是指測量儀器的誤差處于規(guī)定的極限范圍內(nèi)的被測量的示值范圍。

10、型式批準(zhǔn)是由( )做出的承認(rèn)測量儀器的型式符合法定要求的決定。

A.國家法律 B.政府機關(guān) C.政府計量行政部門 D.國家政策

答案：C

解析：型式批準(zhǔn)是由政府計量行政部門做出的承認(rèn)測量儀器的型式符合法定要求的決定。而型式是指某一種測量儀器的樣機及(或)它的技術(shù)文件(如圖紙、設(shè)計資料等)，實質(zhì)上就是該種測量儀器的結(jié)構(gòu)、技術(shù)條件和所表現(xiàn)出來的性能。

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（責(zé)任編輯：hbz）

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