為了幫助考生系統(tǒng)的復(fù)習(xí)2012年注冊(cè)計(jì)量師考試課程，全面的了解注冊(cè)計(jì)量師考試教材的相關(guān)重點(diǎn)，小編特編輯匯總了2012年注冊(cè)計(jì)量師考試輔導(dǎo)資料，希望對(duì)您參加本次考試有所幫助！

注冊(cè)計(jì)量師考試計(jì)量案例分析知識(shí)指導(dǎo)

涂覆層測(cè)厚儀的測(cè)量方式

涂層測(cè)厚儀顧名思義就是測(cè)量涂層厚度的測(cè)量?jī)x器。

涂層測(cè)厚儀根據(jù)測(cè)量原理可以分為以下三種：

1 電磁式：可測(cè)量金屬底材上的非磁性鍍層（底材為鐵或鋼）

2 高周波式：可測(cè)量金屬底材上的非磁性鍍層（底材為鋁、銅和黃銅）

3 雙制式：兼具以上兩種功能

下面推薦一款 德國(guó)EPK（Elektrophysik）公司涂層測(cè)厚儀

涂層測(cè)厚儀MiniTest600系列：德國(guó)EPK（Elektrophysik）公司一直致力于開發(fā)和生產(chǎn)各種用于表面處理行業(yè)的精密測(cè)量?jī)x器。MiniTest600系列涂層測(cè)厚儀小巧實(shí)用、測(cè)量快速精確。探頭頂部由非常耐磨的硬質(zhì)材料制成。

適用的涂層：

F型探頭用于鋼鐵上的非磁性涂鍍層，如油漆、塑料、搪瓷、鉻、鋅等

N型探頭用于有色金屬（如銅、鋁、奧氏體不銹鋼）上的所有絕緣層，如陽極氧化膜、油漆、涂料等

FN型探頭為最新開發(fā)的兩用探頭，可以在磁性和非磁性基體上自動(dòng)轉(zhuǎn)換測(cè)量

測(cè)量范圍：

F型：0~3000μm

N型：0~2000μm

FN型：0~3000μm（F）；0~2000μm（N）

分辨率：±2μm或±2~4%

顯示方法：LCD 四位數(shù)顯，背光可顯

電源：2節(jié)5號(hào)電池 2012年注冊(cè)計(jì)量師考試

尺寸及重量：64x115x25mm

探頭尺寸：φ15x62mm

外標(biāo)法

外標(biāo)法：取待測(cè)試樣的純物質(zhì)配成一系列不同濃度的標(biāo)準(zhǔn)溶液，分別取一定體積，進(jìn)樣分析。從色譜圖上測(cè)出峰面積（或峰高），以峰面積（或峰高）對(duì)含量作圖即為標(biāo)準(zhǔn)曲線。然后在相同的色譜操作條件，分析待測(cè)試樣，從色譜圖上測(cè)出試樣的峰面積（或峰高），由上述標(biāo)準(zhǔn)曲線查出待測(cè)組分的含量。

外標(biāo)法是最常用的定量方法。其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便，不需要測(cè)定校正因子，計(jì)算簡(jiǎn)單。結(jié)果的準(zhǔn)確性主要取決于進(jìn)樣的重視性和色譜操作條件的穩(wěn)定性。

單點(diǎn)校正法

操作：配制一個(gè)和被測(cè)組分含量十分接近的標(biāo)準(zhǔn)溶液，定量進(jìn)樣，由被測(cè)組分和外標(biāo)組分峰面積比或峰高比來求被測(cè)組分的質(zhì)量分?jǐn)?shù)．

wi/ws= Ai/As

wi= Ai/As &8226； ws

由于ws與As均為已知，故可令Ki= ws /As ，得

wi= Ai &8226； Ki 2-69

式中Ki為組分i的單位面積質(zhì)量分?jǐn)?shù)校正值，這樣，測(cè)得Ai，乘以Ki即得被測(cè)組分的質(zhì)量分?jǐn)?shù)．此法假定標(biāo)準(zhǔn)曲線是通過坐標(biāo)原點(diǎn)的直線，因此可由一點(diǎn)決定這條直線，Ki即直線的斜率，因而稱之為單點(diǎn)校正法．

相關(guān)文章：

2012年注冊(cè)計(jì)量師考試計(jì)量案例分析知識(shí)指導(dǎo)61-70

2012年注冊(cè)計(jì)量師考試計(jì)量法律法規(guī)復(fù)習(xí)指導(dǎo)

更多關(guān)注：注冊(cè)計(jì)量師成績(jī)查詢   考試培訓(xùn)  免費(fèi)短信提醒

（責(zé)任編輯：）

共2頁,當(dāng)前第1頁  第一頁  前一頁  下一頁